弊社内には品質管理部門があり、三次元測定器や真円度測定器、成分分析器などの様々な検査設備を用いて、国内外から入荷する品物に対して全て寸法公差検査や硬度、必要であれば成分分析などの検査を行い、検査図面とともに出荷させていただいています。
良い品質は「信用」・「安心」・「未来」に繋がると考えます。社員教育を日々徹底しているのと同時に、国内外のサプライヤー様へ各ユーザー様の管理要望を認識していただき、さらに現地に滞在している弊社スタッフにも国内管理と同等以上の品質管理を目指して指導を行なっております。
認証取得
「ISO9001：2015 品質マネジメントシステム」
「ISO14001：2015 環境マネジメントシステム」
| 技能士（国家資格） | |
| 機械検査技能士2級 | 4名 |
| 機械検査技能士3級 | 4名 |
XYZAX FUSION NEX
Crysta plus M443×2台
携帯型成分分析計
携帯型成分分析計
硬度測定器
テスラメーター・脱磁処理機
デジタルリニアゲージ
Crysta plus M574
XM-T1200
真円度・円筒形状測定機
3Dスキャナ型三次元測定機VL-700
画像寸法測定機×2台
顕微鏡測定器
表面粗さ測定機
リニアハイトゲージ
| 機器名 | 型式 | メーカー | 測定範囲 | 校正期間 |
| 三次元測定機 | XYZAX FUSION NEX | 東京精密 | 850×1000×600 | 3年1回校正 |
| 三次元測定機 | Crysta Plus M574 | ミツトヨ | 500×700×400 | 3年1回校正 |
| 三次元測定機×2台 | Crysta plus M443 | ミツトヨ | 400×400×300 | 3年1回校正 |
| ハンディプローブ三次元測定機 | XM-T1200 | キーエンス | 600×300×200 | 3年1回校正 |
| 3Dスキャナ型三次元測定機 | VL-700 | キーエンス | メーカーＨＰへ | 3年1回校正 |
| 顕微鏡測定機 | MEASURING MICRO SCOPE MF |
ミツトヨ | 220×140 | 3年1回校正 |
| 真円度・円筒形状測定機 | RONDCOM NEX Rs | 東京精密 | メーカーＨＰへ | 3年1回校正 |
| 表面粗さ測定機 | SJ-410 | ミツトヨ | メーカーＨＰへ | 3年1回校正 |
| 画像寸法測定機×2台 | IM-6225T | キーエンス | メーカーＨＰへ | 3年1回校正 |
| 携帯型成分分析計 | XL2-800/980S | Niton | 合金・純金属用 | 5年1回校正 |
| 携帯型成分分析計 | VANTA VCR-CCC-A3 | OLYMPUS | 合金・貴金属用 | 5年1回校正 |
| デジタルリニアゲージ | DG525H | 小野測器 | 0～40 | 毎年1回校正 |
| ハイトゲージ | Qm-Height (QMH-350A) | ミツトヨ | 0～350 | 毎年1回校正 |
| マイクロハイトゲージ×2台 | micro hite 600 | TESA | 0～600 | 毎年1回校正 |
| デジタルノギス×4 | CP-15CPX | ミツトヨ | 0～150 | 適時 |
| デジタルノギス×13 | CP-20CPX | ミツトヨ | 0～200 | 適時 |
| デジタルノギス | CD-30C | ミツトヨ | 0～300 | 適時 |
| 内径ノギス | S0701-02CD | ミツトヨ | 30～180 | 適時 |
| 内径キャリパー | G210 | Kroeplin | 10～30 | 適時 |
| 内径+A39:E43キャリパー | G220 | Kroeplin | 20～40 | 適時 |
| 内測マイクロメーター×2 | IMP-30M | ミツトヨ | 5～30 | 毎年1回校正 |
| 内測マイクロメーター | IMP-50 | ミツトヨ | 25～50 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーター×14 | MDC-25PJ | ミツトヨ | 0～25 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーター×3 | MDC-50PJ | ミツトヨ | 25～50 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーター | MDC-75MC | ミツトヨ | 50～75 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーター | MDC-100MC | ミツトヨ | 75～100 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーター | MDC-125MJB | ミツトヨ | 100～125 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーターブレード | BLM-25 | ミツトヨ | 0～25 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーターブレード | BLM-50M | ミツトヨ | 25～50 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーターブレード | BLM-100 | ミツトヨ | 75～100 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーターU型 | PMU150-25MJ | ミツトヨ | 0～25 | 毎年1回校正 |
| 外測マイクロメーターU型 | PMU150-50MJ | ミツトヨ | 25～50 | 毎年1回校正 |
| キャリパー型 外測マイクロメーター |
OMP-25MX | ミツトヨ | 0～25 | 毎年1回校正 |
| キャリパー型 外測マイクロメーター |
OMP-50MX | ミツトヨ | 25～50 | 毎年1回校正 |
| デプスマイクロメーター | DMC100-150M | ミツトヨ | 0～150 | 毎年1回校正 |
| グルーブマイクロメーター | GVM-25R | ミツトヨ | 内：0～25 外：1.5～25 |
毎年1回校正 |
| シリンダーゲージ | CG-35AX | ミツトヨ | 18～35 | 毎年1回校正 |
| シリンダーゲージ | CG-60AX | ミツトヨ | 35～60 | 毎年1回校正 |
| シリンダーゲージ | CG-150AX | ミツトヨ | 50～150 | 毎年1回校正 |
| シリンダーゲージ | CG-160AX | ミツトヨ | 100～160 | 毎年1回校正 |
| 硬度測定器 | FR1-AN | FUTURE TECH | 毎年1回校正 | |
| 硬度ヤスリ | TSUBOSAN | HRC 40～65 | 適時 | |
| テスラメーター | TM-701 | KANETEC | 磁力測定 | 適時 |
| 脱磁処理機 | 脱磁処理 | 適時 | ||
| 各種 ピンゲージ、ブロックゲージ、 プラグゲージ、リングゲージ |
適時 |
